中國(guó)電子元件行業(yè)協(xié)會(huì)
China Electronic Components Association
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2025年3月7日，國(guó)際電工委員會(huì)（IEC）正式發(fā)布了IEC 62276:2025 《聲表面波器件用單晶晶片 規(guī)范與測(cè)量方法》（Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications-Specifications and measuring methods）。
中國(guó)電子元件行業(yè)協(xié)會(huì)作為IEC/TC49（頻率控制、選擇與探測(cè)用壓電、介電和靜電器件及相關(guān)材料技術(shù)委員會(huì)）的國(guó)內(nèi)技術(shù)對(duì)口單位，充分發(fā)揮橋梁紐帶作用，積極與IEC/TC49秘書(shū)處保持密切溝通，并高效組織國(guó)內(nèi)企業(yè)參與標(biāo)準(zhǔn)修訂工作。此次修訂項(xiàng)目由天通控股股份有限公司牽頭，國(guó)內(nèi)項(xiàng)目團(tuán)隊(duì)由中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二十六研究所、福建晶安光電有限公司、中國(guó)電子元件行業(yè)協(xié)會(huì)、中電科技德清華瑩電子有限公司、北京石晶光電科技股份有限公司、成都泰美克晶體技術(shù)有限公司等行業(yè)內(nèi)優(yōu)秀企業(yè)、組織及科研院所組成。在修訂過(guò)程中，項(xiàng)目團(tuán)隊(duì)對(duì)聲表面波（SAW）器件用單晶晶片及透過(guò)率（晶片黑化程度）的技術(shù)要求和相應(yīng)測(cè)量方法進(jìn)行討論及驗(yàn)證試驗(yàn)，提出了多項(xiàng)技術(shù)性修改內(nèi)容，以適應(yīng)當(dāng)前智能終端時(shí)代對(duì)聲表面波器件用單晶晶片的需求，得到了國(guó)際同行的高度認(rèn)可。
該標(biāo)準(zhǔn)是中國(guó)主導(dǎo)修訂的首個(gè)壓電頻率元器件國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，也是我國(guó)聲表面波（SAW）器件行業(yè)以企業(yè)為主體、市場(chǎng)為導(dǎo)向、產(chǎn)學(xué)研結(jié)合的技術(shù)創(chuàng)新體系建設(shè)的重要嘗試，實(shí)現(xiàn)了中國(guó)主導(dǎo)承擔(dān)本領(lǐng)域國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目“零”的突破，對(duì)建立我國(guó)在該領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)話(huà)語(yǔ)權(quán)及提升產(chǎn)業(yè)國(guó)際競(jìng)爭(zhēng)力具有重要意義。
